蔵書情報
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書誌情報サマリ
| 書名 |
LSIの信頼性 (信頼性技術叢書)
|
| 著者名 |
二川 清／編著
|
| 著者名ヨミ |
ニカワ キヨシ |
| 出版者 |
日科技連出版社
|
| 出版年月 |
2010.10 |
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資料情報
各蔵書資料に関する詳細情報です。
| No. |
資料番号 |
請求記号 |
帯出区分 |
状態 |
配架場所 |
貸出
|
| 1 |
0105574313 | 549.7/ﾆｶ/ | 貸閲複可 | 在庫 | ２階一般 |
○ |
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書誌詳細
この資料の書誌詳細情報です。
| タイトルコード |
1009950871544 |
| 書誌種別 |
和図書（一般） |
| 著者名 |
二川 清／編著
塩野 登／著
横川 慎二／著
福田 保裕／著
三井 泰裕／著
|
| 著者名ヨミ |
ニカワ キヨシ シオノ ノボル ヨコガワ シンジ フクダ ヤスヒロ ミツイ ヤスヒロ |
| 出版者 |
日科技連出版社
|
| 出版年月 |
2010.10 |
| ページ数 |
8,183p |
| 大きさ |
21cm |
| ISBN |
4-8171-9363-6 |
| 分類記号 |
549.7
|
| 分類記号 |
549.7
|
| 書名 |
LSIの信頼性 (信頼性技術叢書) |
| 書名ヨミ |
エルエスアイ ノ シンライセイ |
| 内容紹介 |
家電、携帯、パソコン、自動車など、生活のあらゆるところで、広く深く使われているLSIの普及を支える信頼性技術の主要な要素技術や手法に焦点をあてて解説。基礎から実際的な応用までを幅広く紹介する。 |
| 著者紹介 |
1949年大阪市生まれ。大阪大学大学院基礎工学研究科修士課程修了。同大学大学院情報科学研究科特任教授、金沢工業大学大学院工学研究科客員教授、芝浦工業大学工学部非常勤講師。 |
| 叢書名 |
信頼性技術叢書
|
| (他の紹介)目次 |
第１章 ＬＳＩ信頼性保証概論
第２章 トランジスタ系の信頼性
第３章 ＬＳＩ配線の信頼性
第４章 静電気破壊現象
第５章 故障解析
第６章 寿命データ解析 |
| (他の紹介)著者紹介 |
二川 清
１９４９年大阪市生まれ。大阪大学大学院基礎工学研究科修士課程修了。工学博士。１９７４年‐２００９年、日本電気（株）他にて半導体の信頼性・故障解析技術の研究開発と実務に従事。現在、大阪大学大学院情報科学研究科特任教授、金沢工業大学大学院工学研究科客員教授、芝浦工業大学工学部非常勤講師(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)
塩野 登
１９４７年生まれ。東北大学大学院工学研究科修士課程修了、工学博士。ＮＴＴ ＬＳＩ研究所を経て、現在、（財）日本電子部品信頼性センター理事、日本大学大学院理工学研究科電子工学専攻非常勤講師(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)
横川 慎二
１９７０年生まれ。電気通信大学大学院修士課程修了。博士（工学）。現在、ルネサスエレクトロニクス（株）、デバイス・解析技術統括部先端デバイス開発第二部チームマネージャー。日本信頼性学会２００３年高木賞、ＩＥＥＥ Ｒｅｌｉａｂｉｌｉｔｙ Ｓｏｃｉｅｔｙ Ｊａｐａｎ Ｃｈａｐｔｅｒ Ａｗａｒｄｓ ２００７年論文賞、日本信頼性学会第２２回秋季信頼性シンポジウム優秀賞など(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)
福田 保裕
１９５３年大阪市生まれ。１９７７年、名古屋工業大学電気工学科卒業、沖電気工業（株）入社、半導体事業部生産技術、メモリ設計、信頼性技術を経て、研究本部プロセス研究部長。２００５年、沖エンジニアリング（株）へ信頼性設計事業部長として転籍。２０１０年サムスン電子ＬＣＤ事業部へ入社。主な静電気破壊研究活動は、１９８３年半導体デバイスの静電気破壊、パッケージ帯電モデル、試験方法の提案(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)
三井 泰裕
１９４４年生まれ。山梨大学大学院工学研究科修士課程修了。工学博士。（株）日立製作所中央研究所、同半導体事業部、（株）日立ハイテクノロジーズにて計測技術研究開発に従事後、現在、半導体デバイス解析コンサルタント。日刊工業新聞十大新製品賞(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです) |
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