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書誌情報サマリ

書名

信頼性データ解析 (信頼性技術叢書)

著者名 鈴木 和幸/編著
著者名ヨミ スズキ カズユキ
出版者 日科技連出版社
出版年月 2009.11


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No. 資料番号 請求記号 帯出区分 状態 配架場所 貸出
1 0105465678509.6/スズ/貸閲複可在庫 書庫3

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2009
509.6 509.6
信頼性(工学)

書誌詳細

この資料の書誌詳細情報です。

タイトルコード 1009950776078
書誌種別 和図書(一般)
著者名 鈴木 和幸/編著   益田 昭彦/著   石田 勉/著   横川 慎二/著
著者名ヨミ スズキ カズユキ マスダ アキヒコ イシダ ツトム ヨコガワ シンジ
出版者 日科技連出版社
出版年月 2009.11
ページ数 10,250p
大きさ 21cm
ISBN 4-8171-9326-1
分類記号 509.6
分類記号 509.6
書名 信頼性データ解析 (信頼性技術叢書)
書名ヨミ シンライセイ データ カイセキ
内容紹介 信頼性の作り込みにおいて、基本となる信頼性データの収集と解析方法を、近年の研究成果と併せて解説。寿命データを確率プロットできる方法や、故障メカニズムとそのモデルに基づく信頼性データ解析法などを取り上げる。
著者紹介 1950年生まれ。東京工業大学大学院博士課程修了。電気通信大学システム工学科教授、同大学大学院情報システム学研究科教授。工学博士。著書に「未然防止の原理とそのシステム」など。
叢書名 信頼性技術叢書

(他の紹介)内容紹介 信頼性の作り込みにおいて最も基本となる信頼性データの収集と解析方法を、近年の研究成果と併せて解説。
(他の紹介)目次 序章 信頼性データ解析の必要性と近年の動向
第1章 信頼性データの集め方とデータベースの活用
第2章 信頼性データのまとめ方
第3章 信頼性データ解析の基礎
第4章 確率プロットによる寿命データの解析
第5章 信頼性データの特徴とその解析
第6章 信頼性試験と寿命データ解析
第7章 フィールド寿命データの解析
第8章 故障物理に基づく信頼性データ解析
(他の紹介)著者紹介 鈴木 和幸
 1950年生まれ。東京工業大学大学院博士課程修了。現在、電気通信大学システム工学科、同大学大学院情報システム学研究科教授、工学博士。Wilcoxon Award(米国品質学会、米国統計学会、1999年)(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)
益田 昭彦
 1940年生まれ。電気通信大学大学院博士課程修了。工学博士。現在、帝京科学大学生命環境学部環境学科客員教授。工業標準化経済産業大臣表彰、日本品質管理学会品質技術賞、日本信頼性学会奨励賞、IEEE Reliability Japan Chapter Award(2007年信頼性技術功績賞)(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)
石田 勉
 1946年生まれ。信州大学卒業。日本ケミカルコンデンサ株式会社で品質管理、製品開発等に従事後、日本アイ・ビー・エム株式会社で、製品保証、ソフトウェア品質、お客様満足度調査等に従事。日本科学技術連盟信頼性セミナー講師。IEC/TC56ディペンダビリティ国内委員会委員。日本信頼性学会シンポジウム実行委員会(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)
横川 慎二
 1970年生まれ。電気通信大学大学院修士課程修了。博士(工学)。現在、NECエレクトロニクス株式会社、基盤技術開発本部先端デバイス開発部チームマネージャー。日本電子部品信頼性センター2000年信頼性シンポジウム優秀論文賞、日本信頼性学会2003年高木賞、IEEE Reliability Society Japan Chapter Awards 2007年論文賞など(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)


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