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蔵書情報

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所蔵数 1 在庫数 1 予約数 0

書誌情報サマリ

書名

あいおい損保の現状 2006

著者名 〔あいおい損害保険株式会社/編〕
著者名ヨミ アイオイ ソンガイ ホケン カブシキ ガイシャ
出版者 あいおい損害保険株式会社広報部
出版年月 2006.7


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No. 資料番号 請求記号 帯出区分 状態 配架場所 貸出
1 0104179973339.5/アイ/2006貸閲複可在庫 書庫3

関連資料

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2006
509.6 509.6
信頼性(工学)

書誌詳細

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タイトルコード 1009950535966
書誌種別 和図書(一般)
著者名 鈴木 明/編   港 千尋/編   多摩美術大学図書館ブックプロジェクト/編
著者名ヨミ スズキ アキラ ミナト チヒロ タマ ビジュツ ダイガク トショカン ブック プロジェクト
出版者 鹿島出版会
出版年月 2007.7
ページ数 189p
大きさ 26cm
ISBN 4-306-04484-5
分類記号 017.71365
分類記号 017.71365
書名 つくる図書館をつくる 
書名ヨミ ツクル トショカン オ ツクル
副書名 伊東豊雄と多摩美術大学の実験
副書名ヨミ イトウ トヨオ ト タマ ビジュツ ダイガク ノ ジッケン
内容紹介 建築家・伊東豊雄が設計し、注目されている多摩美術大学図書館。「多機能で創造的な図書館」をコンセプトとした新しい図書館について、多くの図と写真や、専門家の意見を紹介しながら解説する。
著者紹介 1953年東京生まれ。建築エディター・建築批評・神戸芸術工科大学教授。

(他の紹介)内容紹介 世の中の市場や工程で発生した故障の事例は膨大で、一人の技術者もしくは組織として多くの知識を保有し、再発・未然防止に活用するのは困難です。本書は、この大きな課題に対する対応策の一つとして、「信頼性物理ベースでのアプローチ」が有効であるとの考えから執筆されたものです。「信頼性物理」を支えるベースとして、特に、物理的故障解析、信頼性試験、統計的データ解析の解説が充実しており、信頼性技術者にとって有益な信頼性に関する幅広い内容が含まれています。さまざまな環境が激変する現在、信頼性技術を見つめ直し、あらゆる業界・製品・技術分野に対応できる技術者になるための必読の書です。
(他の紹介)目次 これからの技術課題に立ち向かう信頼性物理
第1部 信頼性の基礎と物理的信頼性検証技術(信頼性の基礎
信頼性工学体系と妥当性検証技術
物理的信頼性検証技術)
第2部 故障に至る代表的な因子(信頼性物理に基づく信頼性創り込み
温度
湿度
応力)
第3部 故障メカニズムを説明する物理的・化学的反応(故障メカニズム解明に対する故障解析と信頼性試験の役割
表面・界面の特性と拡散による断線・劣化現象
化学的酸化・腐食による劣化現象
電気的絶縁破壊現象
機械的ストレスによる裁断・摩耗・劣化現象
複合環境による故障メカニズム)
まとめと今後必要となる物理的検証技術
(他の紹介)著者紹介 木村 忠正
 1943年生まれ。1970年、東京大学大学院工学系研究科電子工学専攻博士課程修了、工学博士(東京大学)。1970年〜2009年、電気通信大学専任講師、助教授、教授、理事(兼副学長)、電気通信大学名誉教授。2010年〜2016年、科学技術振興機構プログラム主管。オプトエレクトロニクス、CVDダイヤモンド、シリコンフォトニクス、半導体故障物理などの研究に従事(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)
門田 靖
 1959年生まれ。東京都立大学理学部物理学科卒業。電子通信大学大学院博士課程修了。博士(工学)。1981年、(株)リコー入社。本社QA部門において信頼性・製品安全・環境安全・品質戦略関連部署長を歴任。現在、R&D部門において新規デバイスの信頼性技術開発に携わる(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)
藤本 直伸
 1955年生まれ。1973年、三菱電機(株)入社。品質保証部門・LSI研究所(太陽電池開発など)において、部品の品質保証(信頼性試験、故障解析など)を実施。高信頼性電子機器(防衛・車載・宇宙)に使用される部品の品質保証のために国内外の部品メーカの工場サーベイと品質改善を行った。現在、内藤電誠工業(株)技術顧問として、宇宙用ロケット(H‐3、イプシロンなど)開発支援やJAXA関連の技術支援を行っている(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)


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